第四百九十一章 研究报告,质子半导体(4k)(6 / 33)

报告,则是通过X射线形貌分析(XRD)技术,辅以透射电子显微镜(TEM),对玄冰的晶体结构进行了深入剖析。

XRD图谱上那一条条清晰锐利的衍射峰,如同指纹般独一无二,它们不仅验证了STEM观测的结果,还进一步揭示了玄冰在光学性能上的卓越表现。

玄冰的光学透明度极高,几乎可以媲美最优质的玻璃,同时其折射率和色散特性也极为特殊,这为光纤通信、光学仪器制造等领